製品情報
MS-1000X-LW

基板検査・BGA検査用マイクロスコープ

MSシリーズは実装基板の目視検査を行うためのマイクロスコープです。BGA検査、QFP検査に抜群のマイクロスコープです。BGAの1列目や奥の半田部観察ができます。

広い視野での観察。倍率70倍。BGAピッチ0.8~1.27に最適。
オプションのバックライトの併用により最大12mm奥までの観察が可能。ブリッジの検査、フィレット確認、ボールの位置ずれ、変形確認など。

半田検査用マイクロスコープ
MS-1000X-LW

サンプル動画

PAGETOP

製品の特徴

用途・特徴 BGA、CSP、QFP半田検査用
半田ボールのフィレット形状検査、半田の溶け具合検査、クラック検査、半田不良検査、など従来X線検査では検査できない箇所の検査に最適です。
また、先端のプリズムにストレートプリズム(標準付属)を取り付けますと、QFPなどの表面実装部品の検査に最適です。斜めの角度から半田の溶け具合、半田の浮きなどが検査できます。

製品の仕様

画素数 130万画素
接続 USB2.0
倍率 x70
フォーカス距離 約12mm

PAGETOP

構成

お問い合わせ

PAGETOP